作者:劉雪云來源:網縱會展網 發表時間:2012-09-30 16:36:55關注 次 | 查看所有評論
內容摘要: 關鍵詞:馬爾文SNEC太陽能 英國馬爾文儀器公司攜應用于太陽能電池制造的顆粒表征儀器亮相5月16至18日在上海新國際博覽中心舉辦的第六屆(2012年)國際太陽能光伏大會暨展覽會(SNEC)(馬爾……
英國馬爾文儀器公司攜應用于太陽能電池制造的顆粒表征儀器亮相5月16至18日在上海新國際博覽中心舉辦的第六屆(2012年)國際太陽能光伏大會暨展覽會(SNEC)(馬爾文展位號:W2-800)。馬爾文此次的展品包括最新推出的Mastersizer3000激光衍射粒度分析儀,以及用于測定顆粒粒徑和形狀的SysmexFPIA-3000顆粒圖像分析系統。整套系統可用于極大提高硅片切割過程中高價值碳化硅漿料的循環利用效率和優化碳化硅磨料。
依賴于碳化硅研磨漿料的多線鋸切割工藝,可用于生產光伏太陽能電池所需的切割硅晶圓。這一技術能夠一次性切割成千上萬片晶圓。然而隨著時間的推移,線鋸上的漿料會逐漸被污染,導致廢品硅增多,磨料磨損顆粒積聚,從而降低了線切割過程的效率。此外,碳化硅在晶圓制造行業占據很大的成本比例,據統計每年運行10條線鋸的運行成本高達1600萬美金,這使碳化硅漿料循環利用成為一個附加值極高的工藝。
馬爾文的顆粒表征系統應用于太陽能電池開發和碳化硅漿料循環利用工藝中,可以對生產質量及制造成本控制提供有效支持。其中,Mastersizer3000激光衍射粒度分析儀采用各項最新技術能高速智能化地檢測磨料粒度的細微變化來進行質量控制。SysmexFPIA-3000使用鞘流成像技術優化對碳化硅顆粒及漿料循環利用過程進行最優控制、減少廢料。除了對碳化硅顆粒及漿料進行表征分析,該系統還能調節碳化硅的顆粒粒度和球形度分布,使晶圓之間切割得更薄,從而減少原料的浪費。而MorphologiG3顯微鏡圖像分析系統能夠更深入地了解顆粒的形狀及其對漿料性能的影響。
“近兩年由于歐美對光伏行業的補貼政策變化及市場保護,中國的太陽能光伏產業經歷了大起大落并面臨嚴峻的市場形勢,因此質量及成本控制對于太陽能電池制造商能否在激烈的競爭中脫穎而出顯得尤為重要。”馬爾文公司中國區總經理秦和義先生說道。“我們衷心地希望能夠幫助客戶在控制成本的同時生產出高質量的產品,為光伏行業的發展提供更有力的支持。”
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